Ofertes de Feina i Beques Ofertes de Feina
Select Page
Sistema del microscopio de fuerza ejercidas por un plasmón
Sistema del microscopio de fuerza ejercidas por un plasmón

Investigadors de l’ICFO mesuren la força plasmònica

La investigació suposa un nou avenç en l’estudi de la manipulació òptica plasmònica

July 03, 2006
La investigació, recentment publicada a la revista Physical Review Letters, és el resultat de l’estreta col•laboració entre l’estudiant de doctorat Giovanni Volpe i el Prof. Dmitri Petrov del grup de pinces òptiques, amb el Prof. Romain Quidant del grup de nanoòptica de plasmó i el Prof. Gonçal Badenes del grup de dispositius nanofotònics, a l’ICFO.

En la publicació, els autors informen sobre la primera observació experimental del moment de transferència d’un plasmó de superfície (SP) a un únic objecte dielèctric. Utilitzant un microscopi de força fotònica, els investigadors han mesurat i estudiat les forces de radiació del plasmó resultants del camp intens de SP en la interfase or/aigua. Els científics creuen que aquest estudi contribueix a una millor comprensió i optimització de les forces d’atrapament òptic basades en les ones evanescents de SP, així com de la física de SP.

El plasmó de superfície ocasiona un increment dels plecs del camp d’incidència i, així successivament, de les forces de radiació en un objecte proper. Aquest tipus de camps no radiactius són especialment interessants, ja que poden permetre ajustar els volums d’atrapament més enllà del límit de difracció i, així, aconseguir una manipulació efectiva d’objectes individuals de sublongitud d’ona. Addicionalment, l’aïllament en un nivell del camp intrínsec pot ser d’interès per diverses aplicacions tecnològiques com, per exemple, en els dispositius de laboratori accionats òpticament.


Enllaç al grup de pinces òptiques
Enllaç al grup de nanoòptica de plasmó
Enllaç al grup de dispositius nanofotònics